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产品名称: ModuLab-MTS 材料电特性测试系统

产品编号: ModuLab-MTS

更新日期: 2017-10-08

浏览次数: 1175次

产品详情简介
仪器简介:
 ModuLab XM MTS(材料电特性测试系统)是模块化的,完全整合的研究系统,可用来测试从绝缘体到超导体的大部分材料的电学性质。此测试系统即提供时域技术,如恒定电流,通过脉冲电压和扫描电压(I-V)确定材料的电学性能;又提供AC技术如阻抗、电容、C-V或者Mott-Schottky来提供更多细节信息进一步分析材料的导电机理;并且仪器提供一系列可选模块,扩展了测试范围,如高电压、样品/参比、功率放大器和低电流测试;高/低温系统及样品架配件更提高了其测试能力。系统有两种尺寸配置,满足不同预算,可以配合您的研究,为您量身定做,适应和拓展您的研究深度和广度。
●   时域技术包括I-V,恒定DC,脉冲电位以及电位扫描。
●   AC技术包括阻抗,电容,介电常数,电气模型,C-V以及Mott-Schottky。
●   高性能“即插即用”模块,可选模块扩展了测试范围—高电压、样品/参比、功率放大器和低电流测试。
●   高/低温系统及样品架配件包括低温系统、高温炉等。
 
应用领域:
ModuLab XM MTS系统设计的目的是检验由绝缘体至超导体的几乎任何类型的材料,包括:纳米材料;半导体;光伏;陶瓷;聚合物;显示材料;铁电/压电材料;介电材料;生物材料;超导体。该材料可以是固体,液体或粉末,可使用加热到>1600℃高温炉或冷却到接近绝对零度的低温系统。使用时间域,阻抗和温度测试大多数材料均可获得性能表征。 对于如何用Solartron的系统测试这些材料可以在Solartron的网站上检索得到应用案例:www.solartronanalytical.com/stacksofapps/
 
陶瓷
陶瓷经常用于高温及绝缘领域,特别是航天涡轮扇叶、宇宙飞船的材料片、引擎喷嘴、传感器、盘状刹车等。MTS系统的高电压、高温和低电流模块完美的提供了陶瓷材料的测试环境。
MTS多种选项:• MHV100V高电压 • 外部超高电压放大器(10kV) • MREF采样/参比模式 • 超微电流测量之MFAfA选项 • 高温炉

聚合物
MTS系统可用于测量聚合物的电性能,如电缆绝缘材料、显示屏基质材料、半导体低K介电材料、导电聚合物、塑料涂层等。 阻抗测试广泛应用于聚合物介电特性的测试。
MTS多种选项:• MHV100V高电压 • MREF采样/参比模式 • 超微电流测量之MFA fA选项 • MFRA交流性能测试 • 低温系统用于玻璃化试验

纳米材料
新型纳米材料参杂于现有的陶瓷、聚合物等材料中,制造出具有优异的机械、电气及热特性的复合材料。MTS系统的多功能性及模块性结构是测试这些新型材料电性能的绝佳之选。
MTS多种选项:• MHV100V高电压 • MREF采样/参比模式 • 超微电流测量之MFA     fA选项 • 低温系统 • MFRA交流性能测试

太阳能电池
太阳能电池以其来源于太阳的无穷无尽以及廉价的特点成为传统燃料的替代。MTS系统集成I-V特性(评估功率/转换效率)及阻抗/C-V特性(确定载流子密度和迁移率)测量为一体,简化了测试程序,降低了投入成本。
MTS多种选项:• 时域和交流测试 • MHV100V高电压 • MREF采样/参比模式 • 超微电流测量之MFA     fA选项 • MBST 2A大电流选项 • MFRA交流性能测试

超导体
超导体是指在一个临界温度以下具有零电阻的材料,它们广泛用于电磁体、如MRI、NMI与质谱仪;MTS系统的超低阻抗测试特点和精确的温控附件是测量超导材料的必选。 既能精确控制温度,又能测量超低阻抗,是对这类材料测试的要求。
MTS多种选项:• MBST 2A大电流选项用于     低阻抗测试 • 低温系统 • MFRA交流性能测试

显示材料
新型显示技术,如OLED及AMOLED,为手提电脑、手机及薄屏电视提供了更大的发展潜力。MTS系统为该类产品提供了多种测试方法,如脉冲(显示保持/Flicker测试)、I-V.C-V及阻抗测试。
MTS多种选项:• MHV100V高电压 • MREF采样/参比模式 • 超微电流测量之MFA    fA选项 • MFRA交流性能测试

半导体
半导体材料的电阻率因随周围的电场变化而变化,被广泛应用于PC、整流器、太阳能电池、放大器等。MTS系统的AC与时域测量功能包括I-V、C-V、温度控制及宽泛的电压、电流范围为研究者提供了极大的方便。
MTS多种选项:• I – V,C – V,Mott-Schottky • MHV100V高电压 • MREF采样/参比模式 • 超微电流测量之MFA fA选项 • MBST 2A大电流选项 • 低温系统 • MFRA交流性能测试

介电材料
铁电材料(常用于电子应用, 如PC内存)、压电材料、陶瓷、聚合物、油品、玻璃以及粘土都属于介电材料(绝缘体)。MTS系统的高电压、杰出的电流分辨率及高精度非常适用于测量此类介电材料的电性能。
MTS多种选项:• I – V,阻抗 • MHV100V高电压 • MREF采样/参比模式 • 超微电流测量之MFA     fA选项 • 高温炉或低温系统 • MFRA交流性能测试

生物材料
利用时域及AC测量技术,MTS系统可用于各种生物材料、器官移植成活、医用植入材料、血液、病毒或组织细胞以及药物在体内传输的测量。 虽然不能直接和生物活体相连接,但是广泛应用于体外测试。
MTS多种选项:• MREF采样/参比模式 • 超微电流测量之MFA     fA选项 • 低温系统 • MFRA交流性能测试
 
详细资料 
ModuLab  XM MTS(材料电特性测试系统)是模块化的,完全整合的研究系统,可用来测试从绝缘体到超导体的大部分材料的电学性质。
系统提供:
时域技术包括I-V,恒定DC,脉冲电位以及电位扫描。
AC技术包括阻抗,电容,介电常数,电气模型,C-V以及Mott-Schottky。
可选模块扩展了测试范围—高电压、样品/参比、功率放大器和低电流测试。
高/低温系统及样品架配件包括低温系统、高温炉等等
很多测试系统都可以测试材料的电学性质。典型的系统分析可以分为两类:要么提供时域技术,如恒定电流,通过脉冲电压和扫描电压(I-V)确定材料的电学性能;要么提供AC技术如阻抗、电容、C-V或者Mott-Schottky来提供更多细节信息进一步分析材料的导电机理。许多情况下,根据被测材料的类型,通常需要多个供应商提供多种设备,包括放大器、功率放大器、控温测试设备(低温系统或高温炉),敏感的电流放大器等。
ModuLab XM MTS将上述所有的功能整合于一个模块系统中,从而提供了独特的方法进行材料测试。核心MAT模块提供了高速时域测试功能,系统中还可以加入可选模块,例如加入频响分析模块提供阻抗/C-V测试能力,加入模拟放大器提供高电位/低电流测试,加入控温附件则可以实现温度的控制。这种模块化方法对于用户有如下优点:
启动成本低-您可以先购买MAT核心组件以及主机箱,当资金允许时再购买可选附件。
节约成本-为本系统购买的模块以及附件适用于所有的测试技术。电流以及高电位放大器服务于时域测试和AC测试,所有测试均可实现温度控制。
易于操作-同样的系统软件用在所有测试中,减少了学习时间,增加了熟悉度。
系统维修-当系统的某一模块无法正常工作时,系统的其他组件不会受到影响,当该模块取出维修时,其他组件能继续正常工作。
系统有两种尺寸配置,满足不同预算,可以配合您的研究,为您量身定做,适应和拓展您的研究深度和广度。
 
Modulab XM MTS软件是全面、灵活、易于操作。该系统有多种测试类型可供选择,从标准开路电压、I-V、C-V和Mott Schottky测试到复杂的多步序列测试,包括样品制备、先进的实验技术以及综合阻抗分析。
在实验进行的所有阶段都用到了图表,以便用户精确理解自己的样品需要进行什么样的测试。一旦软件中输入参数,软件中的波形图将给出样品运行时,该实验所需要的实际时间及实验的设置值。
软件还给出了接线图,以方便用户检查样品是否正确连接,并在开始测试之前给出调整。
软件提供了多种数据采集模式可供用户自由选择而不受所选实验类型的限制。例如当运行电压脉冲实验时,就会选择高数据采样率,以便分析脉冲(电压和电流)的实际形状,以选择最佳测试点。
为了使用户能够分别实现序列AC、DC、温度和阻抗测试,软件提供大量的循环测试设定方法,方便使用。
导航式树状结构
可供浏览的导航式树状结构让使用者可设定及显示设定模板、试验、参数、图形与报告。针对特定的一个样品或一组样品,多个项目可以成组,成为序列实验并归档。
集成DC/阻抗
实验可能包含单一或多个步骤顺序。DC时域及AC阻抗步骤完全整合在一起,能进行如恒定电压I-V、C-V、Mott-Schottky和电压脉冲的序列实验。软件甚至允许在AC模式下操作单波扫描、谐波分析及多波FFT功能,同时完成。
数据分析
数据模拟之例行程序完全整合到ModuLab软件中,包括线、圆、等效电路模拟。等效电路模型,可使用一系列的元件包括:电阻、电容、电感、分布参数元件,常相位元件,扩散元件。有些广泛使用的模型在软件中己预先设定,其它模型则可用图表等效电路模型编辑器很轻松地建立,这可建立在许多材料应用中非常复杂的阻抗模型。
数据报告模板
内置数据报告模板格式将采取实验结果、并与图表、曲线图及分析结果一起输出到文字处理器。构建报告简单易行。